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WKL-702顆粒圖像分析儀

WKL-702顆粒圖像分析儀

測量范圍:0.1~3000(微米)
總放大倍數:8000倍
最大分辨率:0.1微米/像素
重復性:誤差≤±1%

產品介紹

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理,具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數,以線性或非線性統計方式繪出分布圖。

儀器型號

WKL-702

測量范圍

0.1~3000(微米)

總放大倍數

8000倍

最大分辨率

0.1微米/像素

重復性

誤差≤±1%

自動分割速度

≤1秒

數字攝像機(CCD)

500萬像素

數據儲存

電腦另配

通信接口

USB

操作系統

WinDOws 98/XP/7/8/10系統均可

電源

AC220V ±10% 200W

儀器尺寸

270mmX410mmX440mm

儀器凈重

15kg